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  • 常州安柏AT5210 多路電池內(nèi)阻測(cè)試儀
    常州安柏AT5210 多路電池內(nèi)阻測(cè)試儀

    常州安柏AT5210 多路電池內(nèi)阻測(cè)試儀概述AT5210是全新設(shè)計(jì)的高精度、高穩(wěn)定性的多路電池測(cè)試儀。可迅速完成10組電池電壓和內(nèi)阻的分選;采用高性能ARM微處理器控制。真彩3.5寸液晶中英文顯示, ...

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  • 常州安柏AT851 電池壽命測(cè)試儀
    常州安柏AT851 電池壽命測(cè)試儀

    常州安柏AT851 電池壽命測(cè)試儀概述AT851 電池壽命測(cè)試儀是獨(dú)立工作的電子負(fù)載,提供了四種負(fù)載工作模式(CC,CV,CP,CR),同時(shí)具備了符合國標(biāo)電池壽命測(cè)試功能。AT851 具備了 AT85...

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  • 常州安柏AT520C 高壓電池內(nèi)阻測(cè)試儀
    常州安柏AT520C 高壓電池內(nèi)阻測(cè)試儀

    常州安柏AT520C 高壓電池內(nèi)阻測(cè)試儀概述AT520C 是全新設(shè)計(jì)的高壓電池內(nèi)阻測(cè)試儀。AT520C 針對(duì)高壓電池進(jìn)行電壓和內(nèi)阻測(cè)試,內(nèi)置直流高電壓表。AT520C 可以測(cè)試0.1mΩ~300Ω的電...

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  • 常州安柏AT528 手持式電池測(cè)試儀
    常州安柏AT528 手持式電池測(cè)試儀

    常州安柏AT528 手持式電池測(cè)試儀概述AT528手持式電池測(cè)試儀是一款可同時(shí)測(cè)量電池內(nèi)阻和電壓的儀表,采用高性能32位ARM微處理器控制.全自動(dòng)實(shí)時(shí)檢測(cè)的微型手持式儀器,內(nèi)置大容量鋰電池實(shí)現(xiàn)超長待機(jī)...

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  • 常州安柏AT520L 電池內(nèi)阻測(cè)試儀
    常州安柏AT520L 電池內(nèi)阻測(cè)試儀

    常州安柏AT520L 電池內(nèi)阻測(cè)試儀概述AT520L是一種精簡(jiǎn)型智能電池內(nèi)阻測(cè)試儀。可以精確測(cè)試電池內(nèi)部電阻和電池電壓。電阻測(cè)量范圍10μΩ~32Ω 。電壓測(cè)量范圍1mV~60VDC,*可以滿足電池生...

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  • 日本圖技GL900多通道數(shù)據(jù)記錄儀
    日本圖技GL900多通道數(shù)據(jù)記錄儀

    日本圖技GL900多通道數(shù)據(jù)記錄儀介紹4/8 通道信號(hào)隔離輸入,以利于不同信號(hào)的測(cè)試。高達(dá)500VDC電壓輸入,濕度溫度和脈沖及邏輯輸入使得多種測(cè)試參數(shù)成為可能。16位AD轉(zhuǎn)換,高速10us同步采樣5...

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  • 常州安柏AT520SE 交流低電阻測(cè)試儀
    常州安柏AT520SE 交流低電阻測(cè)試儀

    常州安柏AT520SE 交流低電阻測(cè)試儀特性●采用矢量法測(cè)量,多種參數(shù)同時(shí)測(cè)量。●1kHz AC低電流測(cè)試●四端測(cè)試●訊響和顯示可調(diào)。●內(nèi)部/手動(dòng)/遠(yuǎn)程觸發(fā)。●兼容SCPI指令集。●鍵盤鎖定功能。●數(shù)...

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  • 常州安柏AT520 交流低電阻測(cè)試儀
    常州安柏AT520 交流低電阻測(cè)試儀

    常州安柏AT520 交流低電阻測(cè)試儀特征●采用矢量法測(cè)量,多種參數(shù)同時(shí)測(cè)量。●比較器(分選)功能:內(nèi)置30組比較器●測(cè)試線損壞偵測(cè)。●訊響和顯示可調(diào)。●兼容SCPI指令集。

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  • 常州安柏 AT520M 高壓電池內(nèi)阻測(cè)試儀
    常州安柏 AT520M 高壓電池內(nèi)阻測(cè)試儀

    常州安柏 AT520M 高壓電池內(nèi)阻測(cè)試儀特性●高亮度,超清晰四色VFD顯示。●電池內(nèi)阻、開路電壓同時(shí)測(cè)量和顯示。●校正功能:短路清零功能 。●四端測(cè)試

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  • 常州安柏AT5220 多路電池內(nèi)阻測(cè)試儀
    常州安柏AT5220 多路電池內(nèi)阻測(cè)試儀

    常州安柏AT5220 多路電池內(nèi)阻測(cè)試儀特性●采用矢量法測(cè)量,多種參數(shù)同時(shí)測(cè)量。●比較器(分選)功能●測(cè)試線損壞偵測(cè)。●兼容SCPI指令集。●全新改進(jìn)的采樣電路

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